嵌入式系統

探討解決嵌入式系統設計挑戰的工具和方法.

今日的嵌入式系統經常將眾多元件整合於單一設計中 (包括微處理器/微控制器、FPGA、A/D、D/A、串列和並列匯流排)，讓除錯與設計驗證變得更加複雜。現在您必須在系統層監控多種訊號 (數位、類比和串列)，以進行設計的疑難排除。您需要能夠產生多種訊號，進行壓力測試或模擬不完整的元件，以判斷設計在實際情況下的表現。您要如何應付這項挑戰，及時在市場上推出您的嵌入式系統？

Tektronix 的測試解決方案提供了完整的工具組，讓您從系統層檢視嵌入式設計，提高您的生產力。瞭解 Tektronix 示波器、訊號產生器和邏輯分析儀，如何直搗各領域 (例如記憶體系統驗證、電源供應器評估、串列匯流排解碼和有效的 FPGA 系統除錯) 嵌入式設計挑戰的根源，加速您的開發工作。

• 觀看探討混合訊號量測進行方式的網路研討會
• 下載說明如何解決特定驗證挑戰的技術論文
• 為您的嵌入式應用尋找建議的測試設備