DCSIMG

儲存裝置

Serial ATA

儲存設備和伺服器產業不斷地推動以最低的成本,達成更快的資料傳輸速度與更大的儲存容量。

Tektronix 為各種標準提供強大完善的測試儀器產品組合,這些標準包括:SATA、SAS、InfiniBand™、Fibre Channel、XAUI 等等。

  • 推薦的測試設備
  • 應用摘要
  • 網路研討會
SAS: Tx 訊號 和 OOB (請按一下展開)
產品 説明 數量
自動一致性測試 軟體 TekExpress 帶選項 SAS-TSG 1
示波器 DSA71254B 或以上 1
探棒 P7516 TriMode 探棒 1
配件 與SMA Cable Set 相配, 174-4944-01 2
6 Gb/s SAS Drive to SMA Test Adapter 067-2043-00 1 套
SAS: S-參數測試 (請按一下展開)

產品 説明 數量
示波器 DSA8300 取樣示波器 1
取樣模組 80E04 TDR 模組 2
Clock Recovery Module 80A07 電氣時脈還原模組 1
軟體 80SSPAR S參數測試 軟體
80SJNB 抖動, 雜訊與BER 軟體
每套1個
6 Gb/s SAS Drive to SMA Test Adapter 067-2043-00 1 套
SATA: 發射機 或 接收測試 (請按一下展開)
產品 説明 PHY/TSG/OOB RSG/RMT
自動一致性測試 軟體 TekExpress 選項 SATA-TSG 選項 SATA-RSG
示波器 DSA71254B 或以上 1 1
訊號發生器 AWG7122 帶選項 1, 6, 和 8 1 1
SerialXpress 軟體 帶選項 ISI 和 SSC 或
BERTScope BSA85C 或 BSA125C 含STR選項
  1
測試治具 TF-SATA-SET-IV-ZP — Host, device, and cable testing 1 1
TF-1P21 link to external site — Gen1 - Gen2 ICT plug fixture 1 1
TF-1R31 link to external site — Gen1 - Gen3 ICT receptacle fixture 1 1
邏輯分析儀探棒 適配器 和 錯誤分析儀 SATA-II link to external site — SATA Gen1 - Gen2   1
SATA-G6 link to external site — SATA Gen1 - Gen3   1
綫纜 174-4944-01 Phase Matched SMA Cables 5 對 6 對
Attenuator 015-1001-01 2 2
SATA: 通道 或 綫纜測試 (請按一下展開)

產品 説明 Rx/Tx SI
自動一致性測試 軟體 TekExpress 選項
SATA-RXTX
選項
SATA-SI
取樣示波器 DSA8300 系列 帶80SICON S-參數分析軟體 1 1
取樣 TDR 模組 80E04, 80E08, 80E10 2 4
訊號發生器 AWG7122 帶選項 1, 6, 和 8 1  
測試治具 TF-SATA-SET-IV-ZP — Host, device, and cable testing 1 1
TF-1P21 link to external site — Gen1 - Gen2 ICT plug fixture 1 1
TF-1R31 link to external site — Gen1 - Gen3 ICT receptacle fixture 1 1
綫纜 174-4944-01 Phase Matched SMA Cables 5 對 4 對
Attenuator 015-1001-01 2  
光纖通道 (請按一下展開)
產品 説明 數量
即時示波器 DPO70000 系列 帶DPOJET 1
混合訊號示波器 MSO70000 系列 帶DPOJET 1
取樣示波器 DSA8200 系列 1
邏輯分析儀 TLA5000B 系列 1
訊號發生器 AWG7000 系列 with SerialXpress 軟體 1
InfiniBand™ (請按一下展開)
產品 説明 數量
即時示波器 DPO70000 系列 帶DPOJET 1
混合訊號示波器 MSO70000 系列 帶DPOJET 1
示波器探棒 P6139A 1
邏輯分析儀 TLA5000B 系列 1
訊號發生器 AWG5000 系列 1
XAUI (請按一下展開)
產品 説明 數量
即時示波器 DPO70000 系列 帶DPOJET 1
混合訊號示波器 MSO70000 系列 帶DPOJET 1
邏輯分析儀 TLA5000B 系列 1
訊號發生器 AWG7000 系列 1

 

  • 磁碟機設計的量測解決方案應用摘要(英)

    本應用摘要,說明了與磁碟機設計六大一般領域相關的眾多量測技術,提供一些現代儀器及技術的摘要,包括適用於探測、擷取及分析磁碟機系統中所找到的電子訊號的儀器及技術。
  • 高速串列設計的測試(英)

    對所有進行高速串列設計 (例如 SATA、PCI-Express、FB-DIMM 和 HDMI) 的設計工程師,這份教材將助益良多。這份簡報將說明連接能力與接收器測試,以及高速串列設計的訊號分析需求。
  • 儲存系統的實體層驗證(英)
    隨著儲存技術的不斷進步,能與更新的轉移方法接軌益顯重要。在本次網路研討會中,您將瞭解由 SATA I/O和串列連接 SCSI 組織修訂的最新「相容性測試規格」版本,看看如何使用自動相容性軟體,在 Tektronix 的儀器上進行這些最新的測試。
  • 高效性能混合訊號驗證和除錯網路研討會(英)
    由於結合高速匯流排與混合類比和數位子系統的優勢,現代嵌入式和計算系統已逐漸變得更加強大。
  • 總抖動的定義網路研討會(英)
    在本教學課程中,我們將一次釐清位元錯誤率峰對峰抖動與總抖動間的差異。我們也將說明如何在示波器上估算 TJ (BER)。