DSA8200 샘플링 오실로스코프
혼합 신호 설계 디버깅을 위한 풍부한 기능을 갖춘 툴
최신 고속 설계는 신호 경로 특성 분석 및 BER 성능 분석을 이전보다 더욱 어렵게 만들고 있습니다. 가장 높은 TDR 대역폭, 가장 빠른 S-파라미터 측정, 가장 포괄적인 분석 툴이라면 가능합니다. DSA8200 디지털 직렬 분석기는 완벽한 네트워크 및 링크 분석 솔루션을 제공합니다.
- 개요
- 애플리케이션
노트 - 프로브 및
액세서리 - DSA8200 모듈
- 소프트웨어
패키지 - 비디오
특징 |
장점 |
| 최대 4개의 트루 디퍼런셜 채널 | 트루 디퍼런셜 TDR 자극 기능을 갖춘 증폭기와 같은 비선형 장치를 정확하게 특성 분석합니다. |
| 고대역폭(50GHz) TDR(Time Domain Reflectometry) | 12ps 인시던트 단계로 임피던스 불연속을 1mm까지 해결할 수 있습니다. |
| IConnect® 신호 무결성 | 통합 TDR 및 S-파라미터 측정으로 테스트 픽스쳐 신호 저하를 초래하는 측정 오류를 감소시킵니다. |
| 직렬 데이터 네트워크 분석(SDNA) | 하나의 측정 장비로 시간 및 주파수 영역 분석을 결합하여 테스트 비용을 줄여줍니다. 신호 crosstalk 및 지터 예측을 위해 신호 경로를 정확히 분석하여 시스템을 안정적으로 운영합니다. |
| 직렬 데이터 링크 분석(SDLA) | 지터, 노이즈, BER 분석을 통해 아이 클로저(eye closure)의 원인을 정확하게 찾아냅니다. 다양한 FFE/DFE 이퀄라이제이션 설정을 신속하게 평가하여 리시버에서 아이 오프닝(eye opening)을 최대화합니다. |
| 원격 샘플링 헤드 | TDR 헤드를 테스트 대상 장치에 가까이 밀착하여 신호 충실도를 최적화하고 프로브, 케이블 및 픽스쳐의 영향을 최소화합니다. |
고속 상호 연결: 특성 분석 및 측정 기반 모델링
고속 상호 연결의 측정 문제를 다룬 입문서
TDR 및 S-파라미터 측정 – 필요한 성능은 어느 정도이십니까?
TDR 기반 측정 툴을 사용하여 S-파라미터 측정을 기존 VNA보다 더 빠르게 수행하는 방법에 대해 알아보십시오.
TDR 임피던스 측정: 신호 무결성의 기초
최신의 높은 작동 주파수에서 신호의 상승 시간, 펄스 폭, 타이밍, 지터 또는 노이즈 콘텐츠에 영향을 주는 것은 시스템 차원의 신뢰성에도 영향을 줄 수 있습니다.
직렬 데이터 적합성 및 검증 측정의 기본
직렬 데이터 전송의 일반적인 사항 및 최신 직렬 기술의 아날로그/디지털 측정 요구조건에 대해 설명합니다.
다음은 일반적인 프로브 및 액세서리 목록입니다. 필요한 것을 찾을 수 없습니까? 프로브 및 액세서리 어드바이저를 방문하여 애플리케이션에 적합한 프로브를 찾아보십시오.
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| P6150 | 9 GHz 패시브 프로브: 매우 높은 품질의 20 GHz 프로브 팁과 매우 유연한 SMA 케이블로 구성되어 있습니다. 더 높은 주파수 성능이 필요하시다면, 015-0560-00 또는 목록에 있는 다른 액세서리 케이블이 함께 사용될 수 있습니다. |
| P8018 | 20 GHz 싱글-엔드 TDR 프로브. 정전기 방지를 위해 80A02 모듈이나 TDR 모듈이 권장됩니다. |
| P80318 | 18 GHz 100 Ω 디퍼런셜 임피던스 TDR 핸드 프로브. |
| 80A03 | 두 개의 텍트로닉스 P7000 시리즈 TekConnect™ 프로브를 DSA8200 또는 DSA8000 시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용가능케 함. |
| P7513 / P7516 | 13 GHz 및 16 GHz TriMode™ 디퍼런셜 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. |
| P7260 | 6 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요 |
| P7350 | 5 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요 |
| P7350SMA | 5 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. 샘플링 목적으로는 높은 대역폭과 신호 충실도 때문에P7350 프로브 보다는 P7380 프로브가 권장됨. |
| P7380SMA | 8 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요 |
| 80A02 | DSA8200 EOS/ESD 프로텍션 모듈(1 채널). P8018 TDR 프로브 권장 |
| 80A03 | TekConnect 프로브 인터페이스 모듈 |
| 82A04 | 낮은 지터 획득을 위한 페이즈 레퍼런스 모듈(트리거와 함께 또는 없이). 2 GHz 에서25 GHz까지 신호 가능 (외부 필터는 8GHz 이하로 요구될 수 있음 / 옵션60G를 사용할 경우 60GHz까지 가능). |
| 80A05 | 일렉트릭 클럭 리커버리/클럭 리커버리. 일렉트릭 신호에 적용 가능 및 80C12와 사용. |
| 80A06 | 80SJB 지터 분석 패키지를 위한 패턴 싱크 모듈. 223 길이 까지 트리거 펄스 패턴을 생성할 수 있는 프로그램 가능한 분배기. |
| 80A07 | 일렉트릭 클럭 리버버리 모듈: For all of the most common electrical standards in the continuous 100 Mb/s to 12.5 Gb/s range. |
| 80E01 | 샘플링 모듈; 50 GHz |
| 80E03 | 샘플링 모듈; Dual, 20 GHz |
| 80E04 | 샘플링 모듈; 듀얼, TDR 기능을 가진 20 GHZ 일렉트릭 샘플링 모듈 |
| 80E06 | 샘플링 모듈; 70+ GHz |
| 80E07 | 샘플링 모듈; Dual, 30 GHz |
| 80E08 | 리모트(remote) 샘플링 모듈; 듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 30 GHZ 일렉트릭 모듈 |
| 80E09 | 샘플링 모듈; Dual, 60 GHz |
| 80E10 | 리모트(remote) 샘플링 모듈; 듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 50 GHZ 일렉트릭 모듈 |
| 80C07B | 옵틱 샘플링 모듈; 2.488 GB/S OC48/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S 인피니밴드;2.5 GHZ 옵틱 대역폭 |
| 80C08C | 옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31 GB/S 10 GBE,10.51875 GB/S 10GFC,10.664 GB/S G.975,10.71 GB/S G.709,11.1 GB/S 10 GBE FEC;10 GHZ 옵틱 대역폭 |
| 80C10B | 옵틱 모듈; 39.813/43.018 GBPS/80 GHZ |
| 80C11 | 옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31/10.52/10.66/10.71/11.1 GB/S; 28 GHz Optical Bandwidth |
| 80C12 | 넓은 파형 길이(700 to 1650 nm) 멀티-레이트 옵틱 샘플링 모듈로 1G, 2G, 4G, 및 8G 텔레컴 및 데이터컴 테스트 지원 |
| 80C25GBE | 65 GHz full bandwidth integrated and selectable reference receiver filtering. Enables conformance testing for 27.739G and 25.781G rates |
| IConnect® MeasureXtractor™ | 신호 무결성 TDR 및 S-파라미터 분석 소프트웨어 | 가격 |
| 80SJNB | 지터, 노이즈 및 BER 분석 소프트웨어 | 가격 |
- DDR2, DDR3 SDRAM 설계 검증 및 디버그
SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory) 데이터 전송 속도는 대략 3년마다 두 배씩 높아져 현재 1.6GT/s에 이르고 있습니다. 이와 동시에 전력 소모를 줄이기 위해 전원 공급 전압은 대폭 낮아졌습니다. 그 결과 SDRAM 신호는 더 고속화, 소형화되어 안정적인 작동을 위한 메모리 시스템의 테스트 필요성이 높아졌습니다.