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TLA7000 시리즈 로직 애널라이저

혁신적인 실시간 디지털 시스템 분석 솔루션

모듈형 TLA7000 시리즈 로직 애널라이저는 현존 최고속 마이크로프로세서와 메모리 설계에서 로직 세부 정보를 캡쳐하는 데 필요한 속도와 유연성을 제공합니다. 포착하기 어려운 오류의 원인을 정확히 찾아내며, 알아보기 쉬운 대형 디스플레이, 빠른 데이터 처리 성능 및 동일한 프로브를 사용한 아날로그 및 디지털 신호의 시간 상관 시각화를 통해 뛰어난 가시성을 제공합니다.



  • 개요
  • 애플리케이션
    노트
  • 프로브 및
    액세서리
  • TLA7000 모듈
  • 비디오

특징

장점

MagniVu™ 획득 모든 채널에서 더 높은 샘플링 분해능(최대 20ps)으로 타이밍 또는 스테이트 획득 모드에서 이벤트가 누락되는 것을 완벽하게 방지합니다.
iCapture™ 멀티플랙싱 단일 로직 애널라이저 프로브로 디지털 및 아날로그 획득을 동시에 수행함으로써 프로브를 이중으로 연결할 필요가 없습니다.
글리치 표시 글리치가 발생한 시간 및 채널을 모두 보여 주는 독점적인 기능으로 모든 채널을 수동으로 검색할 필요가 없습니다.
TS/TH 왜곡 트리거링 간헐적인 셋업 & 홀드 왜곡을 자동으로 획득하는 실시간 왜곡 트리거링으로 시간이 많이 소요되고 복잡한 회로 출력 모니터링 작업을 없애줍니다.
iView™ 디스플레이 시간 상관, 통합 아날로그 및 디지털 데이터를 하나의 디스플레이에 표시하여 완벽한 시스템 가시성을 얻을 수 있습니다.
iVerify™ 분석 오실로스코프로 생성된 아이 다이어그램을 사용하는 멀티 채널 버스 분석으로 신호 무결성 문제를 신속하게 찾습니다.
자동 측정 주파수, 주기, 펄스 폭, 듀티 사이클 및 에지 수와 같은 정밀한 측정으로 설계 작업을 쉽게 요약할 수 있습니다.
트리거 드래그 및 드롭 간단하고 직관적인 트리거 셋업을 통해 이벤트를 신속하게 격리합니다. 트리거에는 채널 에지, 채널 값, 버스 값, 멀티그룹 값, 글리치, 셋업 & 홀드 왜곡 또는 기타 트리거가 있습니다.

신호 무결성의 기초 입문서
본 입문서에서는 디지털 시스템의 신호 무결성 관련 문제에 대한 시각을 제공하고 해당 원인, 특성, 영향 및 해결책에 대해 설명합니다.

직렬 데이터 적합성 및 검증 측정의 기본 입문서
이 입문서는 직렬 데이터 전송의 공통된 측면을 이해할 수 있도록 도와 주며 최신 직렬 기술에 적용되는 아날로그 및 디지털 측정 요구조건에 대해 설명합니다.

DDR, DDR2 & DDR3 SDRAM의 명령 및 프로토콜 검증
컴퓨터 메모리는 더욱 큰 용량이나 빠른 속도, 낮은 전력이나 물리적으로 작은 메모리만을 요구하는 유일한 시스템아 아닙니다. 임베디드 시스템 애플리케이션 또한 비슷한 요구를 가지고 있습니다. 본 애플리케이션 노트는 DDR2 SDRAM 명령 및 프로토콜을 검증하는 데 있어서 로직 애널라이저의 필요성과 유용함에 대해 설명합니다.

모든 애플리케이션 노트 보기

로직 애널라이저 프로브 및 액세서리

최신 고속, 저전압 수준 신호는 신호 무결성에 매우 민감합니다. 이러한 신호의 검증 및 디버그는 정확한 획득과 프로브 작업에 의해 좌우됩니다. 텍트로닉스는 획득이 설계 성능을 정확히 반영할 수 있도록 업계 최고 성능의 로직 애널라이저 프로브를 제공합니다.

텍트로닉스 로직 애널라이저와 함께 사용할 수 있는 타사의 프로브 및 액세서리

Crescent Heart사는 버스, 프로세서 및 ASIC 코어 프로빙을 위한 하드웨어 및 소프트웨어 제품을 제공합니다. 자세한 사항은 www.c-h-s.com 에서 확인하십시오.

FuturePlus Systems사는 메모리 DDR 버스, 직렬 RapidIO, PCI Express 및 디스플레이포트 용 버스 분석 프로브를 제공합니다. 자세한 내용은 www.futureplus.com에서 확인하실 수 있습니다.

Nexus Technology 사는 DDR3, DDR2, DDR, PCI, PCI-X 및 기타 업계 표준 버스를 연력하는 하드웨어 어댑터, 임베디드 제품, 프로브 테스터 및 프로브 변형 키트를 제공합니다. 자세한 사항은 www.nexustechnology.com에서 확인하실 수 있습니다.

TLA7AC2 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 136 채널, 8 GHz MagniVu 타이밍, 235 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이 Select Your Country
TLA7AC3 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 102 채널, 8 GHz MagniVu 타이밍, 235 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이 Select Your Country
TLA7AC4 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 136 채널, 8 GHz MagniVu 타이밍, 235 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이 Select Your Country
TLA7BB2 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 68 채널, 50 GHz MagniVu 타이밍, 750 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이, 4 BNC Analog Probe Outputs with 3 GHz Bandwidth Select Your Country
TLA7BB3 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 102 채널, 50 GHz MagniVu 타이밍, 750 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이, 4 BNC Analog Probe Outputs with 3 GHz Bandwidth Select Your Country
TLA7BB4 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 136 채널, 50 GHz MagniVu 타이밍, 750 MHz 스테이트 클럭, 2 Mb 레코드 길이, 4 BNC Analog Probe Outputs with 3 GHz Bandwidth Select Your Country
TLA7BC4 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 136 채널, 50 GHz MagniVu 타이밍, 750 MHz 스테이트 클럭, 128 Mb 레코드 길이, 4 BNC 아날로그 프로프 출력(3 GHz 대역폭) Select Your Country
TLA7S08 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 8 채널, 5 GB/S 직렬, 32M 샘플/ 채널 메모리 심도 Select Your Country
TLA7S16 TLA7000 로직 애널라이저 모듈, 16 채널, 5 GB/s 직렬, 32 M 샘플/ 채널 메모리 심도 Select Your Country
  • DDR2, DDR3 SDRAM 설계 검증 및 디버그
    SDRAM(Synchronous Dynamic Random Access Memory) 데이터 전송 속도는 대략 3년마다 두 배씩 높아져 현재 1.6GT/s에 이르고 있습니다. 이와 동시에 전력 소모를 줄이기 위해 전원 공급 전압은 대폭 낮아졌습니다. 그 결과 SDRAM 신호는 더 고속화, 소형화되어 안정적인 작동을 위한 메모리 시스템의 테스트 필요성이 높아졌습니다.

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