EMI/EMC
가장 까다로운 마이크로파 및 RF 설계에 요구되는 확실성 제공
EMI가 의도적이든 비의도적이든, 다양한 유형의 RF 및 마이크로파 장치와 컴포넌트에는 시간에 따라 변하는 신호가 있습니다. 텍트로닉스 실시간 스펙트럼 분석기의 독특한 시각과 확실성 없이는 파악하기 어려운 이러한 이벤트를 발견, 트리거, 캡쳐 및 분석하기가 어렵습니다.
- 권장 테스트 장비
- 애플리케이션 노트
- 웹 세미나
설계 테스트
| 제품 |
주파수 범위 |
최대 획득 대역폭 |
| RSA3000 |
DC to 8 MHz |
36 MHz |
| RSA5000 |
1 Hz to 6.2 GHz |
85 MHz |
| RSA6000 |
9 kHz - 14 GHz |
110 MHz |
Field Test
| 제품 |
주파수 범위 |
최대 획득 대역폭 |
| H600 / SA2600 |
10 kHz - 6.2 GHz |
20 MHz |
- 본 요약서에서는 EMI/EMC의 문제점과 해결책에 대한 개요를 간략히 살펴봅니다.
- 본 애플리케이션 노트는 EMI 진단 예시를 포함하여 현재 지정된 탐지 및 필터링 방법을 설명합니다.
- 본 문서는 선형 및 비선형 효과와 RTSA로 시간 및 주파수 영역에서 측정하는 방법을 포함한 위상 고정 루프 작업의 개요를 제공합니다.
- 본 애플리케이션 노트는 RTSA의 탁월한 기능에 대한 개요 및 통신 시스템의 마이크로포닉 및 위상 충돌 문제에 대해 소개합니다.
- 본 입문서는 DPX 스펙트럼 디스플레이와 이를 통해 짧은 신호, 간헐적 신호, 복잡한 신호 및/또는 동시 신호와 관련된 상황을 처리하는 방법을 설명합니다.
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- EMI/EMC 규격 인증 시험에 따른 EMI 레벨에 제한을 두고, Compliance 테스트에 필요한 CISPR 필터 및 QP Detector를 적용한 측정 방식을 정의 하고 있지만, 여전히 EMI 문제가 발생되고 있습니다. High speed 디지털 클럭의 사용으로 의도하지 않은 방사 주파수와 디지털 변조 전송 데이터 스트림과의 공존으로 현재의 EMI Compliance 테스팅 스텐다드는 모든 전자 장치들에 대한 전파 간섭 현상을 충족시키지 못하고 있습니다.
- 오늘날의 복잡한 신호 환경에서 지금까지 개발된 측정 방법에는 한계가 있습니다. RTSA의 새로운 기능을 사용하여 EMC 진단의 문제 해결 시간을 줄일 수 있는 방법에 대해 알아보십시오.
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