신호 무결성
시스템의 모든 위치에서 신호 무결성 문제를 분리 및 제거하기란 매우 까다롭습니다.
텍트로닉스는 고속 신호 편차를 적절히 해결하고 신속히 오류를 찾아 그 원인을 추적하며 일정 지연 및 안정성 문제를 해결하는 데 필요한 대역폭 및 시간 절감 기능을 제공합니다.
- 권장 테스트 장비
- 애플리케이션 노트
- 웹 세미나
| 권장 테스트 장비 | 수량 | |
| 실시간 오실로스코프 | DSA8300 시리즈 샘플링 오실로스코프 (80E10 TDR/80E09 일렉트릭 샘플링 모듈 및 80SJNB 분석 소프트웨어 필요) | 1 |
| 혼합 신호 오실로스코프 | DPO7000 또는 DPO70000 시리즈 오실로스코프(DPOJET 분석 소프트웨어 또는 DSA70000 시리즈 디지털 직렬 분석기 필요) | 1 |
| 오실로스코프 프로브 | 프로브 셀렉터(대역폭 및 타입에 따라 다름) | 1 |
| 로직 애널라이저 | TLA5000B 시리즈, TLA7000 시리즈 | 1 |
| 신호 발생기 | AWG7000 시리즈 | 1 |
| 실시간 스펙트럼 분석기 | RSA3000 시리즈, RSA6100 시리즈 | 1 |
신호 무결성 솔루션 요약서
텍트로닉스의 사용 가능한 솔루션에 대한 개요를 간단히 살펴보십시오.신호 무결성의 기초 입문서
디지털 시스템에서 완벽한 무결성 신호를 생성하고 유지할 수 있는 시각을 얻으십시오.통합 로직 애널라이저 및 오실로스코프를 통한 신속한 신호 무결성 문제 해결 애플리케이션 노트
빠른 제품 개발 시 발생할 수 있는 신호 무결성 문제를 빠르고 효율적으로 해결하는 방법에 대해 알아보십시오.타이밍 오류 디버깅 애플리케이션 노트
로직 애널라이저와 오실로스코프의 기능을 더 많이 사용하여 문제 해결 속도를 높이는 방법에 대해 알아보십시오.로직 애널라이저 기본 입문서
디지털 하드웨어 디버그, 설계 검증 및 임베디드 소프트웨어 디버그를 지원하는 다양한 툴에 대해 알아보십시오.- 모두 보기
TDR 및 임의파형발생기를 이용한 고속 시리얼 인터페이스 신호 무결성 검증 (한국어)
신호 무결성(Signal Integrity)은 아나로그 영역에서 신호를 손상시킬 수 있는 노이즈, 왜곡 및 변형에 관계된 것이며 High Speed Serial 데이터 전송에서는 다양한 변수가 신호 무결성에 영향을 미칠 수 있습니다. 신호 경로 설계, 임피던스 및 부하, 전송 라인 효과 등에 의해 발생되는 신호 왜곡 특성은 회로 설계 및 검증 엔지니어게 큰 부담이 되고 있으며, 제품의 정상적인 동작을 보장하기 위해 반드시 설계 단계에서부터 검증되어야 합니다.토탈 지터(Total Jitter)의 정의
본 튜토리얼에서는 한 번의 비트 오류율에서 피크 대 피크 지터와 토탈 지터 간의 차이를 설명합니다. 또한 오실로스코프에서 TJ(BER)를 예상하는 방법에 대해 설명합니다.제어 파라미터 최적화
게인, 오프셋, 지연, 자기이력 값 및 PWM 파라미터에 대한 올바른 값을 산출해 내면 시간을 줄일 수 있으며 올바른 툴을 사용하면 프로세스 속도를 높일 수 있습니다. 여기에서 올바른 툴에 대해 자세히 알아보십시오.컴포넌트 및 서브시스템 선택
쉽고 빠르게 적절한 컴포넌트와 서브시스템을 정확히 선택하는 것은 더 작고 더 비용 효율적인 솔루션을 안정적으로 제공하는 데 필수적입니다. 직관적인 테스트 및 측정 툴을 사용하여 신속하고 올바르게 선택하는 방법을 확인하십시오.비용 효율적인 통신 솔루션 개발
휴대성, 더 긴 배터리 수명, 더 저렴한 가격에 대한 엔드 유저의 요구로 인해 신뢰성 높은 통신을 비용 효율적인 방법으로 제공하는 것은 더욱 중요해지고 있습니다.- 모두 보기
