직렬 통신
직렬 데이터 버스는 많은 컴퓨터와 임베디드 장치를 연결하는 데 필요한 상호연결, 인터페이스, 네트워킹 및 통신 기능을 제공합니다.
텍트로닉스는 USB, PCI Express, Ethernet, CAN/LIN/FlexRay, I2C, I2S 등 다양한 표준을 위한 강력하고 포괄적인 테스트 장비 제품 군을 제공합니다.
- 권장 테스트 장비
- 애플리케이션 노트
- 웹 세미나
CAN / LIN / FlexRay (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | CAN | LIN | FlexRay |
| 오실로스코프 | DPO/MSO2000 시리즈 또는 | DPO2AUTO | DPO2AUTO | |
| DPO/MSO3000 시리즈 또는 | DPO3AUTO | DPO3AUTO | ||
| DPO/MSO4000 시리즈 또는 | DPO4AUTO | DPO4AUTO | DPO4AUTOMAX | |
| DPO7000 시리즈 | 옵션 LSA, | 옵션 LSA, | PDF-R | |
| 자동차 트리거 모듈 | DPO7000 시리즈 오실로스코프 사용ATM-1  |
Optional | Optional | |
| 프로브 | TCP0030 AC/DC 전류 프로브, TDP1000 또는 TDP0500 고전압 디퍼런셜 프로브, P5050 또는 P6139A 패시브 프로브 | 1개 이상 | 1개 이상 | 1개 이상 |
| 로직 애널라이저 | TLA5000시리즈 | 1 | 1 | 1 |
| 신호 발생기 | AFG3000시리즈 | 1 | 1 | 1 |
이더넷 (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 10/100/1000 Base-T | 10GBase-T(XGbT) | 10/40/100 GBase | 케이블 테스트 |
| 오실로스코프 | DPO7000 (옵션 ET3 사용) | 1 | |||
| DPO/DSA/MSO70000 (옵션 XGbT 사용) | 1 | ||||
| 프로브 | TDP1500 Series Differential Probes | 2 | |||
| P6247, P6248 또는 P6330시리즈 Differential 프로브 | 2 | ||||
| 신호 발생기 | AWG7000시리즈 | 1 | |||
Picosecond Pulse Labs  |
2 | ||||
| 적합성 테스트 픽스쳐 | 고급 테스트 패키지(TF-GBE-ATP) | 1 | |||
| 10GBase-T Fixture (TF-XGbT) | 1 | ||||
| 오실로스코프 | DSA8300 | 1 | 1 | ||
| 샘플링 모듈 | 80E01, 80E08 or 80E10 TDR Sampling Modules | 1 | 1 | ||
| 소프트웨어 | IConnect® TDR 및 S 파라미터 측정 소프트웨어(80SSPAR) | 1 |
I2C, I2S, RS-232/422/485/UART 및 SPI (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | I2C | I2S | RS-xxx | SPI |
| 오실로스코프 | DPO/MSO2000시리즈 또는 | DPO2EMBD | DPO2COMP | DPO4EMBD | |
| DPO/MSO3000시리즈 또는 | DPO3EMBD | DPO3AUDIO | DPO3COMP | DPO4EMBD | |
| DPO/MSO4000시리즈 또는 | DPO4EMBD | DPO4AUDIO | DPO4COMP | DPO4EMBD | |
| DPO7000시리즈 | PDF-R | PDI-R | PDU-R | PDS-R | |
| 프로브 | TCP0030 AC/DC 전류 프로브, TDP1000 또는 TDP0500 고전압 디퍼런셜 프로브, P5050 또는 P6139A 패시브 프로브 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 로직 애널라이저 | TLA5000B시리즈 | 1 | 1 | 1 | 1 |
| 신호 발생기 | AFG3000시리즈 | 1 | 1 | 1 | 1 |
MIPI (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 프로토콜 분석 | Protocol Analysis |
| 오실로스코프 | DPO7254 또는 (옵션 DPOJET 및 D-PHY 사용) (15% rise time accuracy) |
1 | |
| DPO7354, DPO/DSA/MSO70404 또는 (옵션 DPOJET 및 D-PHY 사용) (5% rise time accuracy) | 1 | ||
| 오실로스코프 프로브 | TAP2500, TAP3500, P7240, P73xx with 020-3035-00 tips, P6245, or P6249 | 4 | |
| 로직 애널라이저 | TLA7012 (옵션 TLA7BB2 사용) | 1 | |
| 로직 애널라이저 프로브 | P6980 로직 애널라이저 | 1 | |
| MIPI Solder-in probe adapter |
1 | ||
| P375 Pattern Generator Serial Probe |
1 | ||
| 소프트웨어 | MIPI TLA SW CSI- 또는 DSI-specific 로직 애널라이저 | 1 | |
| MIPI PG3A SW CSI- 또는 DSI-specific 로직 애널라이저 |
1 |
PCI Express: 전기적 적합성 / 디버그 및 검증 (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 1.x | 2.0 | 3.0 |
| 오실로스코프 | DPO/DSA70604B 이상 (옵션 DJA 및 PCE 사용) | 1 | ||
| DPO/DSA71254B 이상 (옵션 DJA, RL 및 SLA 사용) | 1 | |||
| DPO/DSA71604B 이상 (옵션 DJA, RL 및 SLA 사용) | 1 | |||
| 소프트웨어 | SigTest | 1 | 1 | |
| 클럭 지터 툴 | 1 | 1 | ||
| SerialXpress (SDX100) | 1 | 1 | ||
| 프로브 | P7300 또는 P7500시리즈 | 1 | 1 | 1 |
| 고속 신호 발생기 | BERTScope BSA85C 옵션 STR 및 PCISTR 사용 | 1 | 1 | |
| 적합성 테스트 픽스쳐 | CLB 및 CBB 주문 지침  |
1 | 1 |
PCI Express: 디지털 디버그 및 검증 (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 1.x | 2.0 | 3.0 |
| 로직 애널라이저 | TLA7000시리즈 | 1 | 1 | 1 |
| 로직 애널라이저 모듈 | TLA7SA00 | 1 | 1 | 1 |
| 로직 애널라이저 프로브 | P67SA00시리즈 미드-버스 또는 솔더링 | 1개 이상 | 1개 이상 | 1개 이상 |
RapidIO (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 수량 |
| 실시간 오실로스코프 | DPO7000시리즈 또는 DPO/DSA/MSO70804시리즈 | 1 |
| 샘플링 오실로스코프 | DSA8300시리즈 | 1 |
| 모듈 |
80E08 TDR / 80E07 일렉트릭 샘플링 모듈 80A05, 80A07 일렉트릭 클럭 복구 모듈 80A02 EOS/ESD 일렉트릭 클럭 복구 모듈 82A04 위상 기준 모듈 |
1 |
| 로직 애널라이저 | TLA7000시리즈 | 1 |
| 애플리케이션 소프트웨어 | DPOJET 지터 및 아이 분석 TDR 및 S-파라미터 소프트웨어 80SJNB 지터, 노이즈 및 BER 분석 소프트웨어 SerialXpress 직렬 데이터 신호 발생 툴 |
1 |
SONET / SDH (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 수량 |
| 옵틱 샘플링 오실로스코프 | DSA8300시리즈 | 1 |
USB 2.0(확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 전기적 검증 및 적합성 테스트 | 신호 경로 특성 분석 | 디지털 검증 및 디버깅 |
| 오실로스코프 | DPO7254 이상 또는 | 1 | ||
| MSO/DPO4000시리즈 (DPO4USB 모듈 포함) | 1 | |||
| 신호 발생기 | AWG5000 / AWG7000시리즈 임의 파형 발생기 또는 DTG5334, DTG5274 또는 DTG5078 데이터 발생기(DTGM21 출력 모듈 사용) | 1 | ||
| 테스트 픽스쳐 | TDSUSBF 픽스쳐 | 1 | ||
| 애플리케이션 소프트웨어 | TDSUSB2 적합성 테스트 소프트웨어 | 1 | ||
| 디퍼런셜 프로브 | TDP1500, TDP3500, P6248, 또는 P6330 디퍼런셜 프로브 | 1 | ||
| 싱글-엔드 프로브 | TAP1500 또는 P6245 액티브 싱글-엔드 프로브 | 3 | ||
| 전류 프로브 | TCP0030 또는 TCP202 전류 프로브 | 1 | ||
| 샘플링 오실로스코프 | DSA8300 샘플링 오실로스코프 | 1 | ||
| 모듈 | 80E04 TDR 모듈 | 1 | ||
| 로직 애널라이저 | TLA5000 또는 TLA7000 (최소 34개 채널, 64개 권장) | 1 | 프로브 | 고밀도 Mictor 프로브 | 1 |
| USB 로직 애널라이저 지원 | Crescent Heart 로직 애널라이저 프로브 지원 제품 |
1 |
USB 3.0 (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 트랜스미터 | 리시버 | 채널 |
| 오실로스코프 | DPO/DSA71254B 이상 | 옵션 DJA 옵션 USB3 |
옵션 PTU | |
| DSA8300 샘플링 오실로스코프 | 1 | |||
| 샘플링 모듈 | 80E08 TDR 모듈 | 2 | ||
| 소프트웨어 | IConnect TDR 및 S-파라미터 측정(80SSPAR) | 1 | ||
| SerialXpress® (옵션 ISI 및 SSC 사용 SDX100) - AWG용 고급 지터 발생 툴 | 1 | |||
| 자동 적합성 소프트웨어 | TekExpress 자동 테스트 솔루션(옵션 USB-TX 사용) | 1 | ||
| 고속 신호 발생기 | AWG7122 (옵션 6,8 사용) or BERTScope BSA85C 옵션 STR 사용 | 1 | ||
| 프로토콜 분석 및 적합성 테스트 | Ellisys USB Explorer 280 |
|||
| 테스트 픽스쳐 | 호스트 테스트용::: 최고의 신호 품질을 위한 TF-USB3-A-P 또는 기계적 유연성을 위한 TF-USB3-B-R(13m USB 3.0 케이블 포함 - P/N 174-5772-00). TF-USB3-A 플러그 픽스쳐의 정밀 분리의 경우 TF-USB3-AB-KIT를 주문하십시오(Cal Kit 포함). |
1 | 1 | |
| 장치 테스트용: TF-USB3-A-R(짧은 USB 3.0 케이블 포함). |
1 | 1 | ||
| 케이블 테스트: TF-USB3-AB-KIT(USB 3.0 타입 A ~ 타입 B 짧은 케이블, USB 3.0 Calibration 보드, A 플러그 픽스쳐(TF-USB3-A-P), A 소켓 픽스쳐(TF-USB3-A-R), B 소켓 픽스쳐(TF-USB3-B-R)) |
1 |
UWB/WiMedia: v1.0 및 v1.2 (확장하려면 클릭하십시오)
| 제품 | 설명 | 수량 |
| 오실로스코프 | DPO/DSA71254B | 1 |
| 발생기 | AWG7122, 옵션 01 & 옵션 06 임의 파형 발생기 | 1 |
| 발생기 소프트웨어 | RFX100, 옵션 UWBCF: 범용 IQ, IF 및 RF 신호 생성용 RFXpress | 1 |
| 분석 소프트웨어 | UWB 버전 2.2.1 이상, 옵션 UWB | 1 |
- USB 3.0 리시버 적합성 테스트
스트레스 아이 캘리브레이션 및 지터 허용오차 테스트 를 포함 한 USB3.0 리시버 테스트의 모든 것을 다루고 있습니다. - SuperSpeed USB/PCIe Gen 3의 적합성 및 검증(EN)
T텍트로닉스의 SuperSpeed USB/PCIe Gen 3 지원 및 적합성 테스트 방식. - '최고의 파형 특성'과 '강력한 분석 능력' 고속 직렬 분석을 위한 최강의 파트너
DSA/DPO70000B 시리즈 - 임베디드 시스템 설계의 저속 직렬 버스 디버깅
The DPO4000 Series' powerful trigger, decode, and search capabilities, today's design engineers can solve embedded system design issues with exceptional efficiency. - 보다 간단한 설계 검증을 위한 동반자
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모든 직렬 데이터 웹 세미나 보기 (한글)
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