アクティブ プローブ (広帯域/低容量プローブ)
回路負荷を低減して正確な高周波測定を実現
回路に与える負荷を抑えなければならない高インピーダンス、高周波回路要素のテストにおいてテクトロニクスのアクティブ・プローブ(FETプローブを含む）を使用すると、最適な信号周波数帯域と最小の回路負荷でシングルエンド信号、グランド基準信号を取込むことができます。アクティブ・プローブは、受動プローブでは負荷が大きくなってしまう、高密度表面実装デバイスの測定に適しています。