| 高速シリアル・インタフェース測定のエキスパート |
| 高速化の進出、各種シリアル・インタフェースの設計評価に携わるエンジニアのために、当社のPhyレイヤからLink レイヤ、アプリケーション・インタフェースまでの計測、デバッグ、シグナル・インテグリティをサポートする最新の計測器と手法をご紹介します。
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| 入門書 設計者の手引き ：シグナル・インテグリティの検証 |
| 入門書設計者の手引き：シグナル・インテグリティの検証システムの速度が高まるにつれて、シグナル・インテグリティはより困難な課題となりました。この入門書では、デジタル信号に影響を与える主な測定上の問題となる「シグナル・インテグリティ」に注目し、その検証方法について、さまざまな角度から詳しく解説いたします。
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| 入門書シリアル・データのコンプライアンス・テストと検証測定 |
| この入門書では、第2世代のシリアル規格に関する課題に焦点を当て、そのコンプライアンス要件について考察します。
またSATA、PCI Express、HDMIの特徴に触れ、コンプライアンス・テスト、デバッグで注意すべき点を解説します。
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入門書－高速デジタル・シリアル解析 |
| この入門書では差動トランスミッタ/レシーバ、差動伝送路を例にとり、SATA、10GbE、XAUIなどのようなシリアル・バス・アーキテクチャにおける解析方法について分かりやすく解説します。
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高速差動データ信号伝送と測定－入門－ |
| 新たなデータ通信規格の多くで、物理層のデータ転送技術として、ギガビット・クラスのシリアル・データ・リンクが広まっています。このような中で、差動測定技術について理解する必要性はますます高まってきています。この入門書では、高速シリアル・データ・リンクにおける差動信号伝送の使用や広帯域差動プローブの使用に焦点をあてて解説いたします。
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入門書－設計者のためシリアル・トランスミッタ／レシーバ測定ガイド |
| PCI ExpressやシリアルATAといった業界標準のバスを使用したシリアル・データの伝送は高速化の手段として普及してきました。この入門書では、基本的なシリアル・シグナリング、SerDesアーキテクチャ、トランスミッタの要件、レシーバのテストに付随する問題について考察します。
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シリアル規格の進化に対処するためには |
| 絶えず変化し続けるコンプライアンスの要求に対して、どのように対処すべきか、シリアル・データ技術とそれを定義する規格について解説します。
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規格／コンプライアンス・テスト |
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| SDRAMメモリ・システム：組込みシステムのテスト／測定課題 |
| DRAMのトレンドから、DRAM、SDRAM、DIMMまでそれぞれの特徴、アーキテクチャまで詳しく説明しています。その基本を踏まえた上での、メモリ・システムの設計シミュレーション、 設計評価とその評価方法を解説します。また巻末に用語集を追加しました。本書で用いられていない用語についても解説しています。
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| テクトロニクスのDDRソリューション |
アナログからデジタルまでのデバッグ/検証を可能にする豊富なDDRソリューションをご紹介します。双方向性バスに起因するトリガの難しさや、ジッタ、タイミング測定など、 測定上考慮すべきポイントについてご紹介します。
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| DDR2、DDR3、GDDR3 SDRAMおよびFB-DIMMの電気的検証 |
DDR SDRAMのクロック周波数と信号のエッジ・レートはますます高速になっており、シグナル・インテグリティの検証テクニックもさらに重要になっています。このアプリケーション・ノートでは、読み込み／書き込み信号にトリガし、特定することに焦点をあて、DDR2、DDR3、GDDR3 SDRAM、FB-DIMMのさまざまなシグナル・インテグリティ測定について説明しています。
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| DDR、DDR2、DDR3 SDRAMのコマンドとプロトコルの検証 |
DDR2 大容量、高速、低電力、かつ物理的に小さいメモリを必要としているシステムは、DIMMやSODIMMだけでなく、組込みシステムでも同様の要求があります。このアプリケーション・ノートでは、ロジック・アナライザを使用したDDRメモリのコマンドとプロトコルの検証方法について説明しています。
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| USB 2.0物理レイヤ・テスト |
USB 2.0の基礎から電気テスト、ハイ・スピード・テスト、物理レイヤ・テストに必要な機器の紹介までUSB 2.0のコンプライス・テストを簡単、かつ正確に行える当社のソリューションを紹介いたします。
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| 100Base-TXの物理層コンプライアンス・テスト |
イーサネット物理層を製品上で設計または検証するエンジニアを対象に、幅広いテストを迅速に、高い信頼性で、効率よく実行するノウハウを解説しています。
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入門書－PCI Express測定入門 |
PCI Expressにおける検証、デバッグ、コンプライアンスに加え、アーキテクチャ、測定テクニック、確実な設計に必要となるツールなどを説明し、測定ソリューションを解説しています。
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SATA GEN I/II の物理層テスト |
| SATA IOワーキング・グループで規定された物理層の標準規格を満たすために、設計者は定められた方法で、差動電圧、ジッタ、SSCプロファイル、およびアウトオブバンド信号を測定する必要があります。当社が提供するSATAの測定／解析に対するソリューションについて詳しく解説する１冊です。
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HDMI物理層コンプライアンス・テスト |
| ＨＤＭＩ信号のテストにおける課題とコンプライアンス・テストを紹介するとともに、広範囲なテストを自動化し、信頼性の高い測定結果により、これまでにない優れた効率アップを実現するオシロスコープ内蔵型アプリケーション・ソフトウェアについて説明します。
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DVI(デジタル・ビジュアル・インタフェース)のコンプライアンス・テストについて |
| DVI機器の開発者は、他のDVI機器とのインターオペラビリティを実現するために、設計を適切に評価したり、規格に適合しているかを検証する必要があります。DVI Test and Measurement Guideで規定されているDVI物理層テストを行うには、最適な計測機器が不可欠です。このアプリケーション・ノートでは、主に物理層の計測方法について解説します。
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デジタル・ストレージ・オシロスコープによるイーサネット差動リターン・ロスの測定 |
| TDSET3 Ethernetコンプライアンス・テスト・ソフトウェアでは、リターン・ロスの測定結果を、IEEE 802.3 に規定されているリミット値と比較し、その結果をレポートとして自動生成します。ここでは、テスト項目と測定手法を説明し、このシステムを使用することにより、リソースの効率的な利用と検証サイクルの短縮がいかに実現できるかについて述べます。 |
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レシーバ・テスト |
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| 設計者のためのシリアル・トランスミッタ／レシーバ測定ガイド（入門書） |
| シリアル・デバイスの具体的な規格や測定手法の基本的なシリアル・シグナリング、SerDesアーキテクチャ、トランスミッタの要件、レシーバのテストに付随する諸問題を実践に即してわかりやすく解説します。
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シリアライザ・デシリアライザ・コンプライアンス・テストのためのジッタ発生テクニック |
| 信号のジッタは、シリアル・デバイス設計エンジニアが直面している問題の1つです。最近のシリアル・デバイスは、高データ・レートと組込みクロックにより、ビット・エラー・レートを悪化させるジッタの影響を受けやすくなっています。ジッタを含んだ信号を生成しSerDesデバイスの特性評価を行うテクニックについて解説します。
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PCI Expressレシーバ試験をサポートするDTG5000シリーズ |
| 当社ＤＴＧ5000シリーズ・データ・タイミング・ジェネレータを使用したPCI Expressを構成するレシーバやシリアライザ／デシリアライザ（SerDes）、ケーブル、コネクタなど、さまざまな新しいデバイスの設計検証方法と設定について説明します。
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アナログ信号を用いた高速シリアル・レシーバ・テスト |
| 最新のシリアル・インタフェースは、通信速度の高速化に対応するため、アナログ要素を加えた技術が採用されるようになってきました。本書では、高速任意波形ジェネレータを用いた、アナログ信号による最新シリアル通信のテスト手法について解説いたします。 |
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インターコネクト |
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入門書－高速インターコネクト、特性評価・測定に基づいたモデリング |
| タイム・ドメイン測定の理論からSパラメータ抽出、TDR/TDT測定に基づいたシステム性能のモデリングについて分かりやすく解説します。
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プリント基板の品質検証におけるクロストーク測定のための時間ドメイン手法 |
| クロストークの要因について解説し、DSA8200型デジタル・シリアル・アナライザとTDRモジュールを使用したプリント基板のクロストーク測定方法について分かりやすくご紹介します。 |
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オシロスコープ関連 |
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| Pinpoint®トリガ入門 |
| この入門書では、トリガの基本から1,400種類以上のトリガ組み合わせで複雑なイベントを捕らえるPinpointトリガまで詳しく解説します。
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ジッタ測定に最適なプラットフォームの選択 |
| ジッタを理解する上で重要となる用語や種類の解説から、ジッタの許容値、またその原因と影響を特定し、定量化するための最適なツール選択まで、わかりやすく解説します。
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FastFrameでレコード・メモリを有効活用 |
| 限られたメモリ・リソースを効率的に使用する、FastFrame機能により、サンプル・レートと記録時間の間で、従来から強いられてきた妥協がなくなりました。本書では、メモリの有効活用方法を、分かりやすく解説します。
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高速信号測定におけるロング・レコード長の必要性 |
| 今日の高速シリアル・バスのコンプライアンス・テストや検証作業では、高速でサンプリングした大量のデータを解析する必要性がますます高まっています。この冊子では、高速信号測定におけるロング・レコード長の必要性を丁寧に解説します。
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任意FIRフィルタの理論、設計、アプリケーション |
| 最新のテクトロニクスのオシロスコープでは、ユーザが独自に設計したFIRフィルタを波形演算に利用することができます。この冊子では、DSPを使用したFIR（有限インパルス応答）フィルタの理論、また、フィルタの設計手法などを解説。さらに、オシロスコープの演算で使用される、テクトロニクスの任意フィルタによるFIRフィルタ・ライブラリについても説明します。
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DPOが提供する豊富な信号情報による迅速な設計とトラブルシューティング |
| DPXアクイジション技術を採用した最新の DPO を使用すると、設計エンジニアは、間欠的に生ずる異常波形の取込み、表示、測定を素早く簡単に行えます。 これにより、厳しいスケジュールに間に合うようにシリアル・バスの設計を進めたり、トラブルシューティングを迅速に行うことができます。 DPO を用いた設計検証とトラブルシューティングをご紹介します。 |
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高速シリアル・プロービング |
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| Trimod™プローブ・アーキテクチャ |
| 最新の高速で複雑な回路基板でのプローブとDUTの接続の複雑性や擬似差動測定の課題に触れ、TriModeソリューションの提言と、その動作原理、使用方法の他PCIe、SATAなどのアプリケーションを例にとり、TriModeプロービングが有効なシリアル・データについて解説します。
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| プローブ入門 おすすめ |
| 波形の高速化に伴い高性能プローブは、より確度の高い計測に欠かせないものとなっています。
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Z-Active™差動プローブ：プロービング・ノウハウ |
| Z-Active差動プローブの最適な使用方法について、写真入りで詳細に解説します。種類が豊富なプローブの先端に取り付けるTip-Clipアダプタについても、用途別に分かりやすく紹介されています。
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差動プローブを使用したシングルエンド測定 |
| 差動プローブをシングルエンド測定に使用することは、特に高速信号測定で多くの利点があります。このアプリケーション・ノートでは、差動信号において差動プローブを使ってシングルエンド測定を行う方法と、想定される諸問題について解説します。
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Z-Active™高性能プローブ・アーキテクチャ |
| Z-Activeプローブ・アーキテクチャでは、約100 MHz 以下の周波数における従来のハイ・インピーダンスの周波数補償アッテネータ・プローブの性能と、高周波数におけるZ-Activeプローブの性能を組み合わせています。これら2 つの従来のプローブ構造の最適な特性を組み合わせることで、Z-Active プローブ・アーキテクチャは高周波数での電気的性能が向上しています。
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