ロジック・アナライザ

製品バーチャル・デモとウェブ・セミナ

iView™ （英語サイト）
iView（integrated view）により、複雑なデジタル・イベントに関連した高速デジタル信号のアナログ特性の観測について説明しています。このソフトウェア・パッケージは、ほとんどのTLAシリーズとTDSシリーズの組み合わせで利用できます。

FPGAデバッグ・ソリューション（英語サイト）
FPGAベースのシステム検証とデバッグにおける時間短縮の方法について説明しています。

組込みシステム設計問題のソリューション（英語サイト）
組込みシステムの検証とデバッグの生産性を上げるための方法について説明しています。