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アプリケーション - 計測器に盛り込まれた規格技術

最新の無線技術、組込みシステム技術、シリアル・データ、ビデオ設計では、従来にはなかった難しい問題があります。テクトロニクスの規格に関する専門知識と計測器がこの問題を解決します。設計サイクルが短縮され、チームとしての生産性が向上することにより、新製品/サービスをいち早く市場に投入することができます。

エンベデッド(組込み設計)

エンベデッド(組込み設計)システム設計の問題解決に役立つ計測器と計測手法をご紹介します。

テクトロニクスのエンベデッド設計ソリューションは、システム・レベルでの総合的なツールセットとして、作業の生産性を向上させることができます。テクトロニクスのオシロスコープ、信号発生器、ロジックアナライザ、スペクトラムアナライザ(スペアナ)を使用することで、メモリシステムの検証、電源の検証、シリアル・バスのデコード、FPGAの効率的なデバッグなどにおける組込みシステムの問題の原因が特定でき、開発のスピードが上がります。

  • ミックスド・シグナル測定のウェブ・セミナを見ることができます。
  • 特定の問題を解決するための技術資料をダウンロードすることができます。
  • 推奨テスト機器を確認することができます。


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