レーダ・テスト
レーダ設計のための正確な性能と解析能力
レーダ技術の急速な進歩により、革新的な電子製品の開発、評価、製造には最先端の技術と測定ツールが必要です。テクトロニクスの革新的なテスト機器を使用することで、設計プロセスにおける不確かさを低減し、ますます複雑になる設計を確かなものにすることができます。
- 推奨機器
- アプリケーション・ノート
- ウェブ・セミナ
Transmitter Analysis
| Product | Frequency Range | Bandwidth/Sample Rate |
| RSA3000 | DC to 8 GHz | Up to 36 MHz |
| RSA5000 with Option 20 | 1 Hz to 6.2 GHz | Up to 85 MHz |
| RSA6000 with Option 20 | 9 kHz to 14 GHz | Up to 110 MHz |
| DPO7000 with SignalVu Options SVE and SVP | Up to 3.5 GHz | Up to 40 GS/s |
| DSA/DPO70000 with SignalVu Options SVE and SVP | Up to 20 GHz | Up to 50 GS/s |
Receiver/Stimulus Test
| Product | Frequency Range | Sample Rate |
| AWG5000 with RFXpress Option RDR | DC to 350 MHz | Up to 1200 MS/s |
| AWG7000 with RFXpress Option RDR | DC to 9.6 GHz | Up to 24 GS/s |
- RSA6100Aシリーズ・リアルタイム・スペクトラム・アナライザを使用した高機能・高性能なレーダ・テスト(英文)
このアプリケーション・ノートではRSA6100Aシリーズ・リアルタイム・スペクトラム・アナライザを利用した新しいレーダ・テスト方法について説明しています。 - レーダ解析入門
Moder最新のレーダ設計では、測定が非常に難しい複雑なパルスを使用しています。測定範囲、分解能、耐干渉性の改善には、広帯域特性を持った位相変調パルス、周波数チャープ・パルスや非常にパルス幅の狭いナロー・パルスを必要とします。 - レーダ解析入門
最新のレーダ設計では、測定が非常に難しい複雑なパルスを使用しています。測定範囲、分解能、耐干渉性の改善には、広帯域特性を持った位相変調パルス、周波数チャープ・パルスや非常にパルス幅の狭いナロー・パルスを必要とします。 - ジッタ測定に最適なプラットフォームの選択
このテクニカル・ブリーフは、様々なシリアル・データ通信に携わる設計者、研究者、エンジニアを対象としています。ジッタを正しく理解して測定を行うことは、システム・レベルでBER問題を解決する最も確実な方法です。本書では、まずジッタを理解する上で重要となる用語について説明し、次にジッタの測定、評価/定量化に最適なツールについて検討します。 - RFXpress RF/IF/IQ波形生成ソフトウェア
RFXpress RF/IF/IQ波形生成ソフトウェア
レーダ解析入門(英文)
当社の信号解析/信号生成ツールを使用した自動測定(動作原理)について説明しています。まず、レーダ・テストで使用される代表的なツールの概要と、測定結果に影響する測定パラメータについて説明します。次に、当社オシロスコープとスペクトラム・アナライザの自動パルス測定の動作原理について、最後に信号生成の課題とソリューションについて説明します。最新のレーダ測定(英文)
チャープ・レーダ、ホッピング・レーダ、広帯域レーダなど、最新の測定について説明しています。DPXライブ・スペクトラム表示(英文)
DPXライブ・スペクトラム表示の概要と、短時間、間欠的に発生する、複雑で同時発生するような信号の解決方法について説明しています。- すべてを見る
