TLA7000シリーズiLink®ツール・セット
システムのデジタル信号とアナログ信号を詳細に観測
高速の立上りエッジを持つ新しいロジック製品を使用した製品開発では、今までになかったような問題に遭遇します。旧来のデジタル・システムは、デジタル信号の広範囲なバラツキにも対応できましたが、新しいシステムでは対応できなくなってきています。設計マージンが減るにつれ、デジタル信号のアナログ特性がデジタル・システムに及ぼす影響も大きくなってきます。システムのデジタル特性、アナログ特性を同時に測定し、信号異常の原因を特定しなければなりません。
TLA7000シリーズ・ロジック・アナライザは、ロジック・アナライザにオシロスコープの機能を統合して使うことができるiLink®ツール・セットを装備しており、デジタル信号とアナログ信号を同時に観測することができ、複数の信号のデバッグ時間を大幅に短縮することができます。iLinkツール・セットには、以下の機能が含まれています。
- iCapture® － 1本のロジック・アナライザ・プローブで、デジタル・データ、アナログ・データ両方の同時取込みが可能。
- iView® － 時間相関をとって統合されたデジタル・アナログ信号同時表示機能。
- iVerify®－ 複数チャンネルの解析と、オシロスコープで作成されたアイパターンによる評価テストが可能。
iCapture － １本のプローブによる1回の取込みで2種類の測定が可能
P6800シリーズまたはP6900シリーズ・ロジック・アナライザ・プローブを回路にプロービングすることで、ロジック・アナライザ、オシロスコープでデジタル・データ、アナログ・データの両方を同時に取込むことができます。プロービングがすばやく、簡単になり、ダブル・プロービングも不要になり、回路への二重負荷を防ぐこともできます。プローブのトータル入力容量はわずか0.5pFであり、信号の忠実度を損ないません。iCapture機能により、1本のプローブで業界トップクラスの当社オシロスコープにも信号を送ることができます。
iView － アナログ信号の異常がデジタル・システムに及ぼす影響の観測に最適
今日では、どの回路設計も高速のクロック・エッジ、高速のデータ・レートによるハイスピード設計になっています。このような設計では、複雑なデジタル・イベントに関連した高速デジタル信号のアナログ特性を観測する必要があります。iViewは、デジタルとアナログの両方を観測することかできます。iViewは、ロジック・アナライザとオシロスコープのデータをシームレスに統合し、自動的に時間相関をとります。オシロスコープで取込んだアナログ波形を、マウスのクリックだけでロジック・アナライザに送ることかできます。時間相関のとれたアナログ信号、デジタル信号を同時に観測することで、グリッチや間欠的な問題の原因をピンポイントで特定することができます。
iVerify － 迅速なシステム検証に最適
iVerifyを使用することで、オシロスコープの強力な波形取込／解析機能でシステムのパラメータをすばやく検証することができます。テクトロニクスの高性能オシロスコープで取込んだ高分解能のアイ・ダイアグラムを、TLA7000シリーズ・ロジック・アナライザ上に表示することができます。すべてのバスにおけるアイ・ダイアグラムを観測できるため、クロス・トーク、スキュー、オーバーシュート、スルー・レート問題、シンボル間干渉などのシグナル・インテグリティ問題を簡単に特定することができます。あるいは、RapidIO、PCI Expressなどの業界規格で必要となるデータ有効ウィンドウに対して検証することができます。
iLinkツール・セットを使用することで、デジタル・システムのアナログ、デジタルの特性を取込み、観測し、検証することができます。検出した信号異常は、MSO70000シリーズ、DSA/DPO7000/Bシリーズ、DPO7000シリーズ、TDS/CSA7000Bシリーズ、TDS6000シリーズ、TDS5000Bシリーズのリアルタイム・オシロスコープなどの高速取込み、広帯域、拡張解析機能で詳細に解析することができます。
iViewをサポートするオシロスコープ