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DDRからGDDR3までのスピーディな自動測定ソリューション

DDR3-10666の自動測定例　

このビデオではDDR3-10666のデータ（DQ）とストローブ（DQS）間のセットアップ時間（tDS）とホールド時間（tDH）を自動測定しています。波形に含まれる読出しサイクルと書込みサイクルを自動識別し、200箇所（データ・エッジ）のtDSとtDHを一括で測定しています。このため、測定に要する時間を従来の240分の1程度に短縮できます。

1. ウィザードで、簡単自動測定
2. スピーディな検証：100エッジの測定も15秒で完了
3. 充実したプロービング・ソリューション
• 低ランニング・コストの新ソルダイン・チップ
• －50℃～＋150℃対応の耐温度チップ
• 1.5mの耐温度ソケット・ケーブル

1. ウィザードで、簡単自動測定 ウィザードに従って順番に設定するだけで、自動測定が可能です。波形上部に表示されているピンクの逆三角形マークは自動識別されたライト・バーストを示しています。

2. スピーディな検証：100エッジの測定も15秒で完了

DDRのタイミング・パラメータ測定値は、バーストごとにばらつきがあります。このため正しい評価を行うには、パラメータを50回以上測定し、最大値、最小値、平均値などの統計的な手法を用いた評価が必要となります。

当社のDDR測定ソリューションでは、例えば100箇所のtDS（セットアップ・タイム）およびtDH（ホールド・タイム）の統計的測定を、わずか１５秒程度でおこなえるほか、Pass/Fail判定を含む測定結果レポートも自動生成されます。これにより、煩雑な測定が自動かつ迅速に行え、測定効率を大幅にアップすることができます。

DDR解析ソフトウェア

DPOJETによるDDR2-667の読出しサイクル測定例


約15秒で、100箇所のtDSおよびtDHの測定とPass/Fail判定を完了


測定結果レポート・ファイル例
（クリックすると拡大図が表示されます）


DDR Setup Generator
DPOJET用パラメータ測定用設定ファイル自動生成／自動測定ツール


DDR Setup GeneratorのConfiguration Tree

3. 充実したプロービング・ソリューション　

• 低ランニング・コストの新ソルダイン・チップ
• －50℃～＋150℃対応の耐温度チップ
• 1.5mの耐温度ソケット・ケーブル